Transmission electron microscopy investigation of the effect of Si alloying on the thermal stability of amorphous alumina thin films deposited by filtered cathodic arc deposition

Müller, Merlin G. J. (Corresponding author); Nahif, Farwah; Mayer, Joachim; Schneider, Jochen M.

Amsterdam : Elsevier, [u.a.] (2014)
Buchbeitrag, Fachzeitschriftenartikel

In: Surface & coatings technology
Band: 257
Seite(n)/Artikel-Nr.: 338-347

Einrichtungen

  • Fachgruppe für Materialwissenschaft und Werkstofftechnik [520000]
  • Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie [025000]
  • Lehrstuhl für Werkstoffchemie [521110]

Identifikationsnummern