Rapid chemical and structural characterization of metastable thin film libraries by a combination of electron probe microanalysis and scanning X-ray diffraction

Cremer, Rainer; Richter, Silvia

Chichester [u.a.] : Wiley (2002)
Fachzeitschriftenartikel

In: Surface and interface analysis : Sia
Band: 34
Heft: 1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 686-689

Einrichtungen

  • Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie [025000]
  • Lehrstuhl für Werkstoffchemie [521110]
  • Fachgruppe für Materialwissenschaft und Werkstofftechnik [520000]

Identifikationsnummern