Influence of Si and N additions on structure and phase stability of Ge2Sb2Te5 thin films

Kölpin, Helmut; Music, Denis; Laptyeva, Galyna; Ghadimi, Reza; Merget, Florian; Richter, Silvia; Mykhailonka, Ruslan; Mayer, Joachim; Schneider, Jochen M.

Bristol : IOP Publ. Ltd. (2009)
Fachzeitschriftenartikel

In: Journal of physics / Condensed matter
Band: 21
Heft: 43
Seite(n)/Artikel-Nr.: 435501-435509

Einrichtungen

  • Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie [025000]
  • Lehrstuhl für Mikrostrukturanalytik [025010]
  • Lehrstuhl für Werkstoffchemie [521110]
  • Fachgruppe für Materialwissenschaft und Werkstofftechnik [520000]
  • Fachgruppe Physik [130000]

Identifikationsnummern