Strength degradation mechanisms in h-BN/NiAl coated sapphire fibres with a reactive Hf or Y interlayer

Hajas, David E.; Kyrsta, Stepan; Richter, Silvia; Mayer, Joachim; Schneider, Jochen M.

Amsterdam [u.a.] : Elsevier (2008)
Fachzeitschriftenartikel

In: Materials science & engineering / A, Structural materials: properties, microstructure and processing
Band: 491
Heft: 1/2
Seite(n)/Artikel-Nr.: 207-213

Einrichtungen

  • Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie [025000]
  • Lehrstuhl für Mikrostrukturanalytik [025010]
  • Lehrstuhl für Werkstoffchemie [521110]
  • Fachgruppe für Materialwissenschaft und Werkstofftechnik [520000]
  • Fachgruppe Physik [130000]

Identifikationsnummern