Probing the onset of wurtzite phase formation in (V,Al)N thin films by transmission electron microscopy and atom probe tomography

Hans, Marcus; Czigány, Zsolt (Corresponding author); Neuß, Deborah; Sälker, Janis Alexander; Rueß, Holger; Krause, Janina; Nayak, Ganesh K.; Holec, David; Schneider, Jochen M.

Amsterdam [u.a.] : Elsevier Science (2022)
Buchbeitrag, Fachzeitschriftenartikel

In: Surface and coatings technology
Band: 442
Seite(n)/Artikel-Nr.: 128235